Koleksi

Peralatan ujian automatik ATE Primer

Peralatan ujian automatik ATE Primer

Peralatan ujian automatik ATE adalah bahagian penting dalam pemandangan ujian elektronik hari ini. Peralatan ujian automatik membolehkan ujian papan litar bercetak, dan ujian peralatan dilakukan dengan cepat - jauh lebih pantas daripada jika dilakukan secara manual. Oleh kerana masa pengeluaran kakitangan membentuk elemen utama dari keseluruhan kos pengeluaran barang elektronik, perlu mengurangkan masa pengeluaran mungkin. Ini dapat dicapai dengan penggunaan ATE, peralatan ujian automatik.

Peralatan ujian automatik boleh mahal, dan oleh itu perlu memastikan bahawa falsafah yang betul dan jenis atau jenis peralatan ujian automatik yang betul digunakan. Hanya dengan menggunakan penggunaan peralatan ujian automatik dengan betul dapat memperoleh keuntungan maksimum.

Terdapat pelbagai pendekatan yang berbeza yang dapat digunakan untuk peralatan ujian automatik. Setiap jenis mempunyai kelebihan dan kekurangannya sendiri, dan dapat digunakan untuk memberi kesan yang besar dalam keadaan tertentu. Semasa memilih sistem ATE, perlu memahami pelbagai jenis sistem dan dapat menerapkannya dengan betul.

Jenis sistem ujian automatik ATE

Terdapat pelbagai jenis sistem ATE yang boleh digunakan. Ketika mereka mendekati ujian elektronik dengan cara yang sedikit berbeza, mereka biasanya sesuai dengan tahap yang berbeza dalam kitaran ujian pengeluaran. Bentuk ATE yang paling banyak digunakan, peralatan ujian automatik yang digunakan sekarang disenaraikan di bawah:

  • Sistem pemeriksaan PCB: Pemeriksaan PCB adalah elemen utama dalam setiap proses pengeluaran dan sangat penting di mana mesin pilih dan letakkan terlibat. Pemeriksaan manual digunakan bertahun-tahun yang lalu, tetapi selalu tidak boleh dipercayai dan tidak konsisten. Sekarang dengan papan litar bercetak yang pemeriksaan manual jauh lebih rumit bukanlah pilihan yang sesuai. Oleh itu, sistem automatik digunakan:
    • AOI, Pemeriksaan Optik Automatik: digunakan secara meluas di banyak persekitaran pembuatan. Ini pada dasarnya adalah bentuk pemeriksaan, tetapi dilakukan secara automatik. Ini memberikan tahap kebolehulangan dan kelajuan yang jauh lebih tinggi jika dibandingkan dengan pemeriksaan manual. AOI, pemeriksaan optik automatik sangat berguna apabila terletak di hujung garisan yang menghasilkan papan pematerian. Di sini ia dapat dengan cepat mengesan masalah pengeluaran termasuk kecacatan pateri serta sama ada komponen dan pemasangannya betul dan juga sama ada orientasinya betul. Oleh kerana sistem AOI umumnya terletak sejurus selepas proses pematerian PCB, sebarang masalah proses pematerian dapat diselesaikan dengan cepat dan sebelum terlalu banyak papan litar bercetak terjejas.

      Pemeriksaan optik automatik AOI memerlukan masa untuk menyiapkan dan peralatan ujian untuk mempelajari papan. Setelah ditetapkan, ia dapat memproses papan dengan cepat dan mudah. Ia sangat sesuai untuk pengeluaran dengan jumlah yang tinggi. Walaupun tahap intervensi manual rendah, ia memerlukan masa untuk disiapkan dengan betul, dan terdapat pelaburan yang signifikan dalam sistem ujian itu sendiri.

    • Pemeriksaan X-Ray automatik, AXI: Pemeriksaan X-Ray automatik mempunyai banyak persamaan dengan AOI. Tetapi dengan adanya paket BGA, perlu menggunakan bentuk pemeriksaan yang dapat melihat barang-barang yang tidak dapat dilihat secara optik. Pemeriksaan sinar-X automatik, sistem AXI dapat melihat melalui pakej IC dan memeriksa sendi pateri di bawah pakej untuk menilai sendi pateri.
  • Ujian litar ICT: In-Circuit Test, ICT adalah bentuk ATE yang telah digunakan selama bertahun-tahun dan merupakan bentuk ujian papan litar bercetak yang sangat berkesan. Teknik ujian ini tidak hanya melihat litar pintas, litar terbuka, nilai komponen, tetapi juga memeriksa operasi IC.

    Walaupun dalam Ujian Litar, ICT adalah alat yang sangat kuat, namun hari ini dibatasi oleh kekurangan akses ke papan akibat ketumpatan tinggi trek dan komponen dalam kebanyakan reka bentuk. Pin untuk bersentuhan dengan nod mesti diletakkan dengan tepat dengan tepat memandangkan nada yang sangat halus dan mungkin tidak selalu bersentuhan dengan baik. Memandangkan ini dan peningkatan bilangan nod yang terdapat di banyak papan hari ini ia digunakan kurang daripada tahun-tahun sebelumnya, walaupun masih banyak digunakan.

    Penganalisis Kecacatan Pembuatan, MDA adalah satu lagi bentuk ujian papan litar bercetak dan ia merupakan bentuk ICT yang dipermudahkan. Walau bagaimanapun, ujian papan litar bercetak ini hanya menguji kecacatan pembuatan yang melihat litar pintas, litar terbuka dan melihat beberapa nilai komponen. Hasilnya, kos sistem ujian ini jauh lebih rendah daripada ICT sepenuhnya, tetapi liputan kesalahan kurang.

  • Ujian imbasan sempadan JTAG: Imbasan sempadan adalah satu bentuk ujian yang muncul sejak beberapa tahun kebelakangan ini. Juga dikenali sebagai JTAG, Joint Test Action Group, atau dengan standard IEEE 1149.1, scan batas menawarkan kelebihan yang signifikan berbanding bentuk ujian yang lebih tradisional dan dengan itu telah menjadi salah satu alat utama dalam ujian automatik.

    Sebab utama ujian pengukuran sempadan dikembangkan adalah untuk mengatasi masalah kekurangan akses ke papan dan litar bersepadu untuk ujian. Imbasan sempadan mengatasi ini dengan mempunyai daftar imbasan sempadan tertentu dalam litar bersepadu besar. Dengan papan diset ke mod imbasan sempadan, daftar data bersiri dalam litar bersepadu mempunyai data yang disalurkan ke dalamnya. Tindak balas dan karenanya data yang keluar dari rantai data bersiri membolehkan penguji mengesan sebarang kegagalan. Hasil daripada kemampuannya untuk menguji papan dan bahkan IC dengan akses ujian fizikal yang sangat terhad, Boundary Scan / JTAG telah digunakan secara meluas.

  • Ujian berfungsi: Ujian fungsional boleh dianggap sebagai bentuk ujian elektronik yang menjalankan fungsi litar. Terdapat sejumlah pendekatan yang berbeza yang dapat digunakan bergantung pada jenis litar (RF, digital, analog, dll), tahap pengujian yang diperlukan. Pendekatan utama digariskan di bawah:
    • Peralatan Ujian Automatik Berfungsi, FATE: Istilah ini biasanya merujuk kepada peralatan ujian automatik berfungsi besar di konsol yang direka khas. Sistem peralatan ujian automatik ini biasanya digunakan untuk menguji papan digital tetapi pada masa ini penguji besar ini tidak banyak digunakan. Kelajuan yang meningkat di mana banyak papan berjalan hari ini tidak dapat ditampung pada penguji ini di mana petunjuk antara papan yang diuji dan pengukuran atau titik rangsangan penguji dapat menghasilkan kapasitansi besar yang memperlambat laju operasi ke bawah. Di samping itu lekapannya mahal seperti pengembangan program. Walaupun terdapat kekurangan ini, penguji ini masih boleh digunakan di kawasan di mana jumlah pengeluaran tinggi dan kelajuan tidak terlalu tinggi. Mereka biasanya digunakan untuk menguji papan digital.
    • Peralatan ujian rak dan timbunan menggunakan GPIB: Salah satu cara di mana papan, atau unit itu sendiri dapat diuji adalah menggunakan timbunan peralatan ujian yang dikendalikan dari jarak jauh.

      Walaupun sudah tua, banyak barang yang dipasang di rak atau alat uji bangku masih mempunyai kemampuan GPIB. Walaupun GPIB agak lambat dan sudah ada selama lebih dari 30 tahun, ia tetap digunakan secara meluas kerana menyediakan kaedah ujian yang sangat fleksibel. Kelemahan utama GPIB adalah kepantasan dan kos penulisan programnya walaupun pakej eksekutif ujian seperti LabView dapat digunakan untuk membantu penjanaan dan pelaksanaan program di persekitaran ujian. Lekapan atau antara muka ujian juga boleh mahal.

    • Peralatan ujian berasaskan casis atau rak: Salah satu kelemahan utama pendekatan peralatan ujian automatik rak dan timbunan GPIB adalah bahawa ia menempati sejumlah besar ruang, dan kelajuan operasi dibatasi oleh kelajuan GPIB. Untuk mengatasi masalah ini, pelbagai standard untuk sistem yang terdapat di dalam casis telah dikembangkan.
    Walaupun terdapat pelbagai ATE, pendekatan peralatan ujian automatik yang dapat digunakan, ini adalah beberapa sistem yang lebih popular digunakan. Mereka semua boleh menggunakan perisian pengurusan ujian seperti LabView untuk membantu menjalankan ujian individu. Ini membolehkan kemudahan seperti urutan ujian, pengumpulan hasil dan cetakan serta pembalakan hasil, dll.
  • Ujian gabungan: Tidak ada kaedah pengujian tunggal yang dapat memberikan penyelesaian lengkap hari ini. Untuk mengatasi ini, pelbagai sistem peralatan ujian automatik ATE menggabungkan pelbagai pendekatan ujian. Penguji gabungan ini biasanya digunakan untuk ujian papan litar bercetak. Dengan melakukan ini, ujian elektronik tunggal dapat memperoleh tahap akses yang jauh lebih besar untuk ujian papan litar bercetak, dan liputan ujian jauh lebih tinggi. Selain itu penguji gabungan dapat melakukan pelbagai jenis ujian tanpa perlu menggerakkan papan dari satu penguji ke penguji yang lain. Dengan cara ini satu rangkaian ujian boleh merangkumi ujian litar Dalam serta beberapa ujian fungsional dan kemudian beberapa ujian imbasan sempadan JTAG.

Setiap jenis falsafah ujian automatik mempunyai kekuatannya, dan dengan itu perlu untuk memilih jenis pendekatan ujian yang betul untuk ujian yang diharapkan.

Dengan menggunakan semua teknik ujian yang berbeza dengan tepat, adalah mungkin peralatan ujian automatik ATE untuk digunakan sepenuhnya. Ini akan membolehkan ujian dijalankan dengan pantas, sementara masih memberikan liputan tahap tinggi. Teknik pemeriksaan termasuk pemeriksaan AOI dan sinar-X dapat digunakan bersama dengan ujian litar Dalam, dan ujian imbasan sempadan JTAG. Ujian berfungsi juga boleh digunakan. Walaupun ada kemungkinan untuk menggunakan pelbagai jenis ujian, perlu memastikan produk tidak diuji secara berlebihan kerana ini membuang masa. Sebagai contoh jika pemeriksaan AOI atau X-Ray digunakan, mungkin tidak sesuai untuk menggunakan ujian litar Dalam. Tempat ujian imbasan sempadan JTAG juga harus dipertimbangkan. Dengan cara ini strategi ujian yang paling berkesan dapat ditentukan.

Tonton videonya: RSM - RUTIN SEBELUM MEMANDU AUTOMATIK (November 2020).